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晶硅接线盒测试
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非晶硅接线盒测试
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参数名称
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测试范围
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测试条件
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测试范围
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测试条件
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正向压降VF
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0.1~5V
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2~30A
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0.1~2V
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2~30A
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反向漏电IR
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0.1uA~100mA
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5~250V
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0.1uA~5mA
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50~1200V
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反向压降VDR
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10~250V
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1uA~100mA
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50~1200V
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1uA~2mA
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ΔVDR
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0~250V
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1uA~100mA
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0~1200V
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1uA~2mA
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公母线阻R
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1~20mW
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2~30A
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1~20mW
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2~30A
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